| 产品简介： |
| Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE/RoHS /ELV法令，快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。 ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术(XGT)实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室(460X360X150㎜) ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并真正实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机(50倍)指定试样的位置 (业内首家！X射线・光学同轴照射) ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能 |
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